产品技术
Product technology
| 产品技术 | 薄膜沉积
AVP HR PVD System
-高浓度离子辅助的倾角溅射(Directional Sputtering)
-高速率反应溅射,如Al2O3的沉积速率 > 1nm/s
-优异的薄膜厚度均匀性(1σ<1%),裹覆率(Step Coverage ~50%)
-基片背面氦气冷却,基片温度(<50°C)
-高靶材使用率(>80%)
产品参数
AVP Cluster PVD 技术指标
配置最多3个工艺腔体、可以定制配置、腔体、配件等
工艺腔体HR PVD, 附带远程离子源
附带功能基片位置较准
基片尺寸最大到8英寸
基片背冷基片温度  < 50­°C
晶圆转动0~30RPM
晶圆台倾斜角度10~80 Degrees
溅射电源脉冲直流(PDC)+射频(RF)
远程离子源最大功率2 kW RF
溅射最大功率5 kW for PDC; 10kW for RF
工艺气体Ar, O2, N2 
极限真空<8 x 10-8 Torr
真空泵分子泵 + CTI 水泵 + 干泵
自动控制DeviceNet/PLC
软件基于最新windows的控制软件,可远程调控
薄膜均匀性 (1σ)< 1.0% ,49Pts/5mmEE